参考缺口，用于对样品台上的任何位置进行内在索引
正方形，便于与SEM平台的X-Y轴对齐
可靠地检索样品台上的任何位置
相关显微镜的理想选择；在多个具有X-Y轴的成像/分析平台上可以轻松找到相同的位置
可进行确证性显微镜检查；在SEM平台之间共享或事后重新调查同一位置
非常适用于重复性显微镜检查和重复性样品制备程序；可以很容易地找到完全相同的位置并重复成像
比传统的圆形样品台有更大的样品面积
与所有现有的工具、夹具、SEM支架和样品制备设备完全兼容
| 产品编号 | 描述 | 单位 |
|---|---|---|
| 16187-12 | Ted Pella Q正方形样品台，12.7 x 12.7mm | 个 |
| 16187-19 | Ted Pella Q正方形样品台，19 x 19mm | 个 |
| 16187-25 | Ted Pella Q正方形样品台，25.4 x 25.4mm | 个 |
陈先生（设备）